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北京英格海德分析技術有限公司

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過程氣體分析質譜儀

詳細摘要： The HPR-30 is a residual gas analyser configured for analysis of gases and vapou...
產品型號：所在地：更新時間：2024-02-02 在線留言
EQP等離子體質量和能量分析質譜儀

詳細摘要： The EQP system directly measures mass and energy of both positive and negative p...
產品型號：所在地：更新時間：2024-02-02 在線留言
PSM等離子體質量和能量分析質譜儀

詳細摘要： Hiden plasma probes measure some of the key plasma parameters and provide detail...
產品型號：所在地：更新時間：2024-02-02 在線留言
高級朗繆爾探針

詳細摘要： A system for the analysis of secondary positive and negative ions from solid sam...
產品型號：所在地：更新時間：2024-02-02 在線留言
等離子體刻蝕終點檢測儀

詳細摘要： The IMP-EPD is a differentially pumped, ruggedised secondary ion mass spectromet...
產品型號：所在地：更新時間：2024-02-02 在線留言
二次離子質譜工作站

詳細摘要： The Hiden SIMS Workstation provides for high performance static and dynamic SIMS...
產品型號：所在地：更新時間：2024-02-02 在線留言
二次離子質譜探針

詳細摘要： The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mas...
產品型號：所在地：更新時間：2024-02-02 在線留言
二次離子/濺射中性粒子質譜儀

詳細摘要： The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mas...
產品型號：所在地：更新時間：2024-02-02 在線留言
銫離子槍

詳細摘要： The IG5C features a low power, high brightness, surface ionisation source couple...
產品型號：所在地：更新時間：2024-02-02 在線留言
Ar/O2離子槍

詳細摘要： The IG20 features a high brightness electron impact gas ion source which is desi...
產品型號：所在地：更新時間：2024-02-02 在線留言
原子散亂表面分析儀器

詳細摘要： Pascal Sputtering system is suitable For Accurate Multi Layer Deposition，Higher ...
產品型號：所在地：更新時間：2024-02-02 在線留言
激光分子束外延鍍膜系統(tǒng)

詳細摘要： The laser MBE is very suitable for the atomic layer controlled growth of oxides ...
產品型號：所在地：更新時間：2024-02-02 在線留言
HPR-60常壓分子束取樣質譜儀

詳細摘要： The Hiden HPR-60 molecular beam mass spectrometer is a compact skimmer inlet MS ...
產品型號：所在地：更新時間：2024-02-02 在線留言
飛行時間二次離子質譜儀TOF-SIMS

詳細摘要：品牌：Hiden 型號：TOF-qSIMS 制造商：Hiden Analytical Ltd 產地：英國
產品型號：所在地：更新時間：2022-08-25 在線留言